Product
產品中心用心做好產品，專心服務客戶當前位置：首頁 / 產品中心 / 日本Lambda Vision / Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀 / Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀
產品型號
廠商性質
更新時間
瀏覽次數
產品分類
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
由于Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀是非接觸式和非破壞性的，因此可以在不損壞樣品的情況下快速方便地進行測量。廣泛用于研發和在線質量控制中的薄膜厚度測量。高精度、高穩定性
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀特點
可以非接觸、非破壞性方式測量薄膜厚度
厚度范圍從 10 nm 到 1000 μm，多可測量三層
不僅能測量薄膜厚度，還能測量光學乘數（n、k）(多達 3 個總參數）
支持微小點測量
還可測量濾光片顏料膜厚
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀測量原理
假設在折射率為 n2 的基底上有一層厚度為 d、折射率為 n1 的薄膜，如圖所示。 考慮從空氣（折射率 n0）入射到薄膜上的光線。 光在美麗的路徑上被反射，在穿過薄膜并反射到基底表面的成分中，還有一個成分從薄膜中射出，可以作為反射光被捕獲。 由于光是一種波，這些反射成分會相互干涉。 考慮到入射光垂直于基底入射，這種干涉的減弱和加強取決于光學膜厚度 n d（即絕對膜厚度 n 乘以厚度 d）和波長。
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀技術規格
| 型號 | TFW-100(1) | TFW-100(2) | TFW-100(3) |
| 用途 | ITO薄膜厚度 | 一般膜厚用 | 濾光片膜厚 |
| 膜厚范圍 | 10nm～500nm(C/F) | 150nm～1.5μm(C/F) | 500nm～10μm(C/F) |
| 500nm～15μm(FFT) | 1.5μm～60μm(FFT) | ||
| 測量重現性 | 0.2%～1%(取決于膜材質) | ||
| 波長范圍 | 300nm～1000nm | 400nm～700nm | 900nm～1600nm |
| 光源 | Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀12V-100W 鹵素燈 | ||
| 測量軟件 | TF-Lab (曲線擬合法/ FFT法) | ||
產品中心
德國Elma超聲波清洗機 美國Branson必能信 超聲波處理器關于我們
公司介紹 企業文化其他信息
新聞中心 技術文章 在線留言
掃碼加微信
聯系電話：4009202386
公司郵箱：tony.li@labcan.cn
上海市嘉定區芳林路963號808室
Copyright © 2025 桂寧（上海）實驗器材有限公司版權所有 備案號：滬ICP備13045571號-5
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
相關文章
上一篇